发布时间：2017-12-06
产品型号：LT-1ρ≥3Ω
高频光电导少数载流子寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准（F28-75）及国家标准GB/T1553-1997设计制造。
高频光电导少数载流子寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准（F28-75）及国家标准GB/T1553-1997设计制造，广泛应用于工厂的常规测量。寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。
少子寿命测试仪配置：
光脉冲发生装置（重复频率＞25次/s 脉宽≥60μs 光脉冲关断时间＜5μs
红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶） 脉冲电源：5A～20A）
高频源（频率：30MHz 低输出阻抗 输出功率＞1W）
放大器和检波器（频率响应：3Hz～1MHz）
配用示波器（配用示波器：频带宽度不低于10MHz Y轴增益及扫描速度均应连续可调
如测量锗单晶寿命需另行配置适当波长的光源）
寿命测试范围：10~6000μs
主机外形尺寸：W470×D365×H155
总重量：12Kg
电源：～220V 50Hz 功耗＜50W
15801328661
86-010-80589037
