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更新时间：2014-01-21 
浏览次数：14851、非接触式测量，用光纤探头接收反射光，不会被破坏和污染薄膜；
2、薄膜测厚仪测量速度快，测量时间为秒的量级；
3、可用来测薄膜厚度，也可用来测量薄膜的折射率n和消光吸收k；
4、薄膜测厚仪可测单层薄膜，还可测多层膜系；
5、薄膜测厚仪可广泛应用于各种介质，半导体，液晶等透明或半透明薄膜材料；
6、软件的材料库中整合了大量材料的折射率和消光系数，可供用户参考。
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